Zref consente di eseguire due tipi di calcoli da misure di diffrazione di cristallo singolo, al fine di determinare i parametri unità di cellule. Se avete centrato riflessioni in 8 posizioni sul diffrattometro con il comando Zref del software unico, i profili omega finali sono memorizzati in un file RFL. I profili di riflessione memorizzati in quel file possono poi essere esaminati dal programma WinIntegrStp, rimontate automaticamente, e le posizioni di punta ideali e parametri di cella possono essere determinati. Se avete problemi con forme di punta, il processo automatizzato non riuscirà. In questo caso, è possibile adattare e integrare i picchi a mano in WinIntegrStp e salvare le posizioni a muro in un file di dati o int integrato. Quindi, leggere il file in int a questo programma, in cui è possibile determinare le posizioni di punta corrette con il metodo 8 posizioni, e perfezionare i parametri unità di cellule. Il programma inoltre leggere i file generati da mat singola in modo da poter effettuare dei minimi quadrati della lista picco senza avviare singola.
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